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鍍層測(cè)厚儀的幾種工作原理介紹

發(fā)布時(shí)間:2023-02-09   點(diǎn)擊次數(shù):1113次
  鍍層測(cè)厚儀主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。
  鍍層測(cè)厚儀的測(cè)量工作原理:
  1、磁性測(cè)厚法:
  適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為:鋼鐵銀鎳。此種方法測(cè)量精度高(如:鐵等磁性材料)
  2、渦流測(cè)厚法:
  渦流測(cè)量原理是高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng),測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí),就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近,則渦流愈大,反射阻抗也愈大。與磁感應(yīng)測(cè)厚法一樣,渦流測(cè)厚法也達(dá)到了分辨率0.1um,允許誤差1%,量程10mm的高水平。
  影響鍍層測(cè)厚儀的因素有:
  1、試件的變形:丈量頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上測(cè)出牢靠的數(shù)據(jù)。
  2、邊緣效應(yīng):本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行丈量是不牢靠的。
  3、基體金屬電性質(zhì):基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)丈量有影響,而基體金屬的電導(dǎo)率與其資料成分及熱處理方法有關(guān)。運(yùn)用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的規(guī)范片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
  4、基體金屬厚度:每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度,丈量就不受基體金屬厚度的影響。
  5、曲率:試件的曲率對(duì)丈量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此,在曲折試件的表面上丈量是不牢靠的。
  6、基體金屬磁性質(zhì):磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性改變的影響(在實(shí)踐運(yùn)用中,低碳鋼磁性的改變能夠認(rèn)為是輕微的),為了防止熱處理和冷加工因素的影響,應(yīng)運(yùn)用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的規(guī)范片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
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